Consiliul National al Cercetarii Stiintifice din Invatamantul Superior

Home > Arhiva > BCUM - arhiva > Lista granturi BCUM > Granturi BCUM

Trimite pe email

Printeaza

CENTRU DE STUDII SI CARACTERIZARI PRIN METODE OPTICE DE MARE REZOLUTIE - MICROSCOPIE SI MICROANALIZA

Institutia gazda: Universitatea POLITEHNICA din Bucuresti
Facultatea Electronica si Telecomunicatii

Parteneri:

UNIVERSITATEA "DUNAREA DE JOS" GALATI
U.M.F. "CAROL DAVILA" BUCURESTI
UNIVERSITATEA TEHNICA BACAU

Director: Prof. Dr. George A. Stanciu

Infrastructura:

Laboratories:

Laborator de cercetare si investigatii prin microscopie cu baleiaj cu fascicol laser.
Laborator decercetare si investigatii bazat pe microscopie cu forte atomice (Atomic Force Microscopy)

Equipment:

Microscop cu baleiaj al fascicolului laser (LSM);
Microscop confocal cu baleiaj al fascicolului laser (CSLM);
Microscop bazat pe forte atomice (AFM);
Microscop optic cu baleiaj in camp apropiat (SNOM);
Sistem de excitatie multifoton;

Facilities:

Microscopie confocala si neconfocala cu baleiaj al fasciculului laser:
- cercetari in domeniul microelectronicii (caracterizari de suprafete, caracterizari in volumul materialelor si dispozitivelor semiconductoare determinari de timpi de viata, caracterizari asupra laserilor cu semiconductori, etc.);
- Cercetari in domeniul biologiei (studii asupra celulelor);
- Cercetari in domeniul medicinei (investigatii nedistructive pe toate tipurile de tesuturi);
- Cercetari in domeniul chimiei (studii nedistructive asupra polimerilor);
- Cercetari in domeniul agriculturii (investigatii asupra semintelor si tesuturilor diferitelor plante);
- Cercetari in domeniul medicinii veterinare (investigatii asupra tesuturilor);
Microscopie optica cu baleiaj in camp apropiat si Microscopie de mare rezolutie bazata pe forte atomice:

Aplicatii

Microelectronica
Cercetari asupra materialelor semiconductoare folosind Microscop cu baleiaj al fascicolului laser
	Imagine 3-D obtinuta la un semiconductor cu lungime de unda mare
Investigatii asupra dispozitivelor semiconductoare
2-D reflexion image of the emmiter-base function of the power transistor	The image of the emitter- base obtained by LBIC method
2-D image of the quantum wells laser structure, obtained by LBIC method.
Investigations on liquid crystals

The images of the interface liquid-crystal - substrate (Confocal Scanning Laser microscopy)
Biology
Image of the cells obtained by CSLM

Programe de cercetare:

Investigatii nedistructive asupra materialelor si dispozitivelor semiconductoare;
Studii si caracterizari asupra cristalelor lichide in vederea obtinerii unor dispozitive de mare performanta.
Studii si caracterizari pe diverse probe biologice.
Investigatii asupra polimerilor.
Investigatii asupra materialelor dielectrice folosind CSLM si AFM;
Studii si caracterizari ale filmelor subtiri prin CSLM si AFM.
Investigatii asupra materialelor magnetice folosind AFM;
Caracterizarea membranelor microporoase folosind microscopul confocal in mod flurescent.

Servicii oferite:

Serviciu	Descriere
Investigatii nedistructive de mare rezolutie asupra materialelor si dispozitivelor semiconductoare, cristalelor lichide si polimerilor	Investigatiile vor fi realizate utilizand fenomenele de reflexie, fotoluminiscenta, transmisie si fotocurentului indus de radiatia laser. Microscopia confocala cu baleiaj al fasciculului laser ofera posibilitatea obtinerii de sectiuni (imagini ale planelor in volumul probei), ceea ce conduce la o caracterizare a suprafetei si de asemenea a volumului probelor.
Investigatii optice de mare rezolutie pe probe biologice.	Se realizeaza prin utilizarea microscopiei confocale cu baleiaj laser in principal pe baza fenomenului de fluorescenta. Investigatiile vor conduce la o diagnosticare sigura si rapida a modificarilor aparute in orice fel de tesut. Microscpia confocala ofera posibilitatea efectuarii de "tomografii" optice ale testurilor, iar microscopia in camp optic apropiat asigura caracterizari de inalta rezolutie (zeci de Angstromi)
Investigatii asupra cristalelor lichide si polimerilor	Determinari ale orientarii crisatlelor lichide, in absenta si in prezenta campului electric; Determinari asupra tensiunilor electrice de prag in cazul crisalelor lichide; Determinari asupra modului in care anumite materiale dielecrtice pot influienta orintarile cristalelor lichide. Determinarile realizate pe baza fenomenului de reflexie (microscopia confocala) sunt singurele, care ofera posibilitatea studiului interfetelor in dispozitivele bazate pe cristale lichide; Studiile asupra polimerilor bazate pe microscopia confocala si pe pe microscopia in camp optic apropiat fera informatii complete asupra structurii acestora

Contacts:
Telefon:+40 014 110 061
Fax:+40 014 116 171
e-mail: stanciu@physics.pub.ro

Infrastructura:

Laboratories:

Laborator de cercetare si investigatii prin microscopie cu baleiaj cu fascicol laser.
Laborator decercetare si investigatii bazat pe microscopie cu forte atomice (Atomic Force Microscopy)

Equipment:

Microscop cu baleiaj al fascicolului laser (LSM);
Microscop confocal cu baleiaj al fascicolului laser (CSLM);
Microscop bazat pe forte atomice (AFM);
Microscop optic cu baleiaj in camp apropiat (SNOM);
Sistem de excitatie multifoton;

Facilities:

Microscopie confocala si neconfocala cu baleiaj al fasciculului laser:
- cercetari in domeniul microelectronicii (caracterizari de suprafete, caracterizari in volumul materialelor si dispozitivelor semiconductoare determinari de timpi de viata, caracterizari asupra laserilor cu semiconductori, etc.);
- Cercetari in domeniul biologiei (studii asupra celulelor);
- Cercetari in domeniul medicinei (investigatii nedistructive pe toate tipurile de tesuturi);
- Cercetari in domeniul chimiei (studii nedistructive asupra polimerilor);
- Cercetari in domeniul agriculturii (investigatii asupra semintelor si tesuturilor diferitelor plante);
- Cercetari in domeniul medicinii veterinare (investigatii asupra tesuturilor);
Microscopie optica cu baleiaj in camp apropiat si Microscopie de mare rezolutie bazata pe forte atomice:

Aplicatii

Microelectronica
Cercetari asupra materialelor semiconductoare folosind Microscop cu baleiaj al fascicolului laser
	Imagine 3-D obtinuta la un semiconductor cu lungime de unda mare
Investigatii asupra dispozitivelor semiconductoare
2-D reflexion image of the emmiter-base function of the power transistor	The image of the emitter- base obtained by LBIC method
2-D image of the quantum wells laser structure, obtained by LBIC method.
Investigations on liquid crystals

The images of the interface liquid-crystal - substrate (Confocal Scanning Laser microscopy)
Biology
Image of the cells obtained by CSLM

Programe de cercetare:

Investigatii nedistructive asupra materialelor si dispozitivelor semiconductoare;
Studii si caracterizari asupra cristalelor lichide in vederea obtinerii unor dispozitive de mare performanta.
Studii si caracterizari pe diverse probe biologice.
Investigatii asupra polimerilor.
Investigatii asupra materialelor dielectrice folosind CSLM si AFM;
Studii si caracterizari ale filmelor subtiri prin CSLM si AFM.
Investigatii asupra materialelor magnetice folosind AFM;
Caracterizarea membranelor microporoase folosind microscopul confocal in mod flurescent.

Servicii oferite:

Serviciu	Descriere
Investigatii nedistructive de mare rezolutie asupra materialelor si dispozitivelor semiconductoare, cristalelor lichide si polimerilor	Investigatiile vor fi realizate utilizand fenomenele de reflexie, fotoluminiscenta, transmisie si fotocurentului indus de radiatia laser. Microscopia confocala cu baleiaj al fasciculului laser ofera posibilitatea obtinerii de sectiuni (imagini ale planelor in volumul probei), ceea ce conduce la o caracterizare a suprafetei si de asemenea a volumului probelor.
Investigatii optice de mare rezolutie pe probe biologice.	Se realizeaza prin utilizarea microscopiei confocale cu baleiaj laser in principal pe baza fenomenului de fluorescenta. Investigatiile vor conduce la o diagnosticare sigura si rapida a modificarilor aparute in orice fel de tesut. Microscpia confocala ofera posibilitatea efectuarii de "tomografii" optice ale testurilor, iar microscopia in camp optic apropiat asigura caracterizari de inalta rezolutie (zeci de Angstromi)
Investigatii asupra cristalelor lichide si polimerilor	Determinari ale orientarii crisatlelor lichide, in absenta si in prezenta campului electric; Determinari asupra tensiunilor electrice de prag in cazul crisalelor lichide; Determinari asupra modului in care anumite materiale dielecrtice pot influienta orintarile cristalelor lichide. Determinarile realizate pe baza fenomenului de reflexie (microscopia confocala) sunt singurele, care ofera posibilitatea studiului interfetelor in dispozitivele bazate pe cristale lichide; Studiile asupra polimerilor bazate pe microscopia confocala si pe pe microscopia in camp optic apropiat fera informatii complete asupra structurii acestora

Contacts:
Telefon:+40 014 110 061
Fax:+40 014 116 171
e-mail: stanciu@physics.pub.ro

Trimite pe email

Printeaza

Sus

CENTRU DE STUDII SI CARACTERIZARI PRIN METODE OPTICE DE MARE REZOLUTIE - MICROSCOPIE SI MICROANALIZA

Microelectronica

Contacts: Telefon:+40 014 110 061 Fax:+40 014 116 171 e-mail: stanciu@physics.pub.ro

Microelectronica

Contacts: Telefon:+40 014 110 061 Fax:+40 014 116 171 e-mail: stanciu@physics.pub.ro

Contacts:
Telefon:+40 014 110 061
Fax:+40 014 116 171
e-mail: stanciu@physics.pub.ro

Contacts:
Telefon:+40 014 110 061
Fax:+40 014 116 171
e-mail: stanciu@physics.pub.ro